如何测量晶振信号中的低相位噪声？

如何测量晶振信号中的低相位噪声？  测量和监控晶振中的相位噪声水平非常重要，因为它会因晶体老化或其他外部因素（如振动、温度和 g 力）而随时间变化。 感兴趣的朋友不要划走，请跟随晶光华小编一起去了解：

相位噪声是在频率范围内测量的，并被绘制成信号振幅，与频率相对。因此很难直接观察相位噪声。对于噪声较大的信号，可在频谱分析上清楚的看到。在这种情况下，频谱仪上原本的晶振噪声高于被测量的晶振噪声，这使得直接观测相位噪声变得非常困难，因此必须增大敏感性测试。

在相当干净的晶振信号中测量相位噪声的最常用方法是将两个晶振相比较，大多数相位噪声测量系统都使用这种方法。

超低相位噪声参考晶振设计，为在与被测单元完全相同的频率下工作，然后将该信号和被测晶振的信号反馈到相位检测器，然后将它们的相对相位噪声调整并锁定在90度偏移处，同时载波频率被混频器移除，现在混合到基频率的残余噪声调制仍然存在，然后将该信号放大以增加灵敏度。

现在可以使用带宽非常低的分析仪更仔细地检查这种残留的放大残余噪声。这些读数通常表示为边带噪声功率的比率（在中心频率到载波信号功率的给定偏移距离处以1Hz带宽测量。）

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